N-tyypin M10 monokiteinen piikiekko-eritelmä

N-tyypin M10 monokiteinen piikiekko-eritelmä

Tämä spesifikaatio määrittelee N-tyyppisen monokiteisen piikiekon (koko M10) edistyneille aurinkokennoille. Czochralski -menetelmän avulla fosforin seostuksella, kiekkoissa on alhainen happipitoisuus (enintään 8E17 at/cm³), vähähiilipitoisuus (enintään 5E16/cm³), syövytysten tiheys jopa 500 cm⁻² ja tarkan pintakehityksen 3 asteen kolmen asteen sisällä<100>.Key Sähköominaisuuksiin kuuluu resistiivisyysalue 1,0-7,0 ω.CM ja korkea vähemmistökantajan elinaika (vähintään 1000 μs). Konneilla on optimoitu pseudo-neliögeometria, jonka sivupituus on 182 mm (toleranssi 0,25 mm), halkaisija 247 mm (toleranssi 0,25 mm) ja ulkomuodona. Saatavana paksuuksina 150 - 180 μm (toleranssien kanssa), ne takaavat minimaalisen paksuuden vaihtelun (TTV -maksimiarvo 27 μm). Pinnan laatua on tiukasti kontrolloitu ("leikatulla ja puhdistetulla"), kielletty kontaminaatio ja mikrohalkaiset, rajat sahalakkeille (korkeintaan 15 μm), keula ja loimi (enintään 40 μm). Tämä suuri muoto tukee alan siirtymistä kohti optimoitua valon sieppausta.
Share to
Lähetä kysely
Keskustele nyt
Kuvaus
Tekniset parametrit

CZ silicon crystal growth

 

p-type-182mm-monocrystalline-solar-wafer12427330843

 

Tämä spesifikaatio määrittelee N-tyyppisen monokiteisen piikiekon (koko M10) edistyneille aurinkokennoille. Czochralski -menetelmän avulla fosforin seostuksella, kiekkoissa on alhainen happipitoisuus (enintään 8E17 at/cm³), vähähiilipitoisuus (enintään 5E16/cm³), syövytysten tiheys jopa 500 cm⁻² ja tarkan pintakehityksen 3 asteen kolmen asteen sisällä<100>.

 

Tärkeimpiä sähköominaisuuksia ovat resistiivisyysalue 1,0 - 7,0 ω.cm ja korkea vähemmistökantajan elinaika (vähintään 1000 μs).

Kelloilla on optimoitu pseudo-neliögeometria, jonka sivupituus on 182 mm (toleranssi 0,25 mm), halkaisija 247 mm (toleranssi 0,25 mm) ja vierekkäiset sivut 90 asteessa (toleranssi 0,2 astetta). Saatavana paksuuksina 150 - 180 μm (toleranssien kanssa), ne takaavat minimaalisen paksuuden vaihtelun (TTV -maksimiarvo 27 μm). Pinnan laatua on tiukasti kontrolloitu ("leikatulla ja puhdistetulla"), kielletty kontaminaatio ja mikrohalkaiset, rajat sahalakkeille (korkeintaan 15 μm), keula ja loimi (enintään 40 μm). Tämä suuri muoto tukee alan siirtymistä kohti optimoitua valon sieppausta.

 

 

1. Materiaalin ominaisuudet

 

Omaisuus

Eritelmä

Tarkastusmenetelmä

Kasvumenetelmä

Cz

 

Kiteisyys

Monokiteinen

Suositeltavat etsaustekniikat(ASTM F47-88)

Johtavuustyyppi

N-tyyppi

Napson EC-80TPN

Viiva

Fosfori

-

Happipitoisuus [OI]

Vähemmän tai yhtä suuri kuin8e +17 at/cm3

FTIR (ASTM F121-83)

Hiilipitoisuus [CS]

Vähemmän tai yhtä suuri kuin5e +16 at/cm3

FTIR (ASTM F123-91)

ETCH PIT -tiheys (dislokaatiotiheys)

Vähemmän tai yhtä suuri kuin500 cm-2

Suositeltavat etsaustekniikat(ASTM F47-88)

Pintasuunta

<100>± 3 astetta

Röntgendiffraktiomenetelmä (ASTM F26-1987)

Pseudo -neliöpuolen suunta

<010>,<001>± 3 astetta

Röntgendiffraktiomenetelmä (ASTM F26-1987)

 

2. Sektriset ominaisuudet

 

Omaisuus

Eritelmä

Tarkastusmenetelmä

Vastustuskyky

1,0-7,0 ω.cm

Kiekkojen tarkastusjärjestelmä

MCLT (vähemmistökantajan elinikä)

Suurempi tai yhtä suuri kuin 1000 µ

Sinton BCT-400
Ohimenevä
(Injektiotasolla: 5E14 cm-3)

 

3.Geometria

 

Omaisuus

Eritelmä

Tarkastusmenetelmä

Geometria

pseudo -aukio

 
Viistereunan muoto
pyöristää  

Kiekon sivupituus

182 ± 0,25 mm

kiekkojen tarkastusjärjestelmä

Kiekkojen halkaisija

φ247 ± 0,25 mm

kiekkojen tarkastusjärjestelmä

Viereisten sivujen välinen kulma

90 astetta ± 0,2 astetta

kiekkojen tarkastusjärjestelmä

Paksuus

180 ﹢ 20/﹣10 µm
175﹢ 20/﹣10 µm
170﹢ 20/﹣10 µm
165﹢ 20/﹣10 µm
160﹢ 20/﹣10 µm
150﹢ 10/﹣10 µm
kiekkojen tarkastusjärjestelmä

TTV (kokonaispaksuuden variaatio)

Vähemmän tai yhtä suuri kuin 27 µm

kiekkojen tarkastusjärjestelmä

 

 

N-Type M10 Monocrystalline Silicon Wafer Specification1

 

4.Pintaominaisuudet

 

Omaisuus

Eritelmä

Tarkastusmenetelmä

Leikkausmenetelmä

Dw

--

Pinnan laatu

Leikkauksena ja puhdistetulla tavalla ei ole näkyvää saastumista (öljy tai rasva, sormenjäljet, saippua tahrat, lietteiset tahrat, epoksi-/liima -tahrat eivät ole sallittuja)

kiekkojen tarkastusjärjestelmä

Sahamerkit / askelet

Vähemmän tai yhtä suuri kuin 15 um

kiekkojen tarkastusjärjestelmä

Keula

Vähemmän tai yhtä suuri kuin 40 µm

kiekkojen tarkastusjärjestelmä

Loimi

Vähemmän tai yhtä suuri kuin 40 µm

kiekkojen tarkastusjärjestelmä

Siru

syvyys pienempi tai yhtä suuri kuin 0,3 mm ja pituus pienempi tai yhtä suuri kuin 0,5 mm: n enimmäismäärä 2/kp; Ei V-sirua

Alasti silmät tai kiekkojen tarkastusjärjestelmä

Mikrohalkeamat / reikät

Ei sallittua

kiekkojen tarkastusjärjestelmä

 

 

 

Suositut Tagit: N-tyypin M10 monokiteinen piikiekko-eritelmä, Kiina, toimittajat, valmistajat, tehdas, valmistettu Kiinassa

Lähetä kysely
Lähetä kysely